雙束掃描電鏡主要被應(yīng)用于納米材料、生物學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域,TESCAN泰思肯新推出的FIB-SEM雙束電鏡在行業(yè)內(nèi)反響不錯(cuò),受到了眾多用戶的推崇。那么,泰思肯雙束掃描電鏡的應(yīng)用優(yōu)點(diǎn)有哪些?下面就讓小編來為大家簡單介紹一下: 實(shí)際上,FIB-SEM雙束電鏡不僅僅是將聚焦離子束與掃描電鏡集成于一體,更重要的是通過集成其他輔助系統(tǒng)使FIB-SEM的加工及分析功能更加豐富。
泰思肯雙束掃描電鏡的應(yīng)用優(yōu)點(diǎn)包括以下這幾點(diǎn):
1、新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù),保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測能力;
2、首次配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡,物鏡無磁場外泄,實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析;
3、配置4個(gè)新一代探測器,可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測,對(duì)樣品信息的采集更加全面;
4、配置大型樣品室,有超過20個(gè)擴(kuò)展接口,為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境;
5、可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件;
6、新一代操作軟件和自動(dòng)功能,FIB鏡筒具有全自動(dòng)的離子鏡筒對(duì)中,極大簡化了操作、
此外,TESCAN AMBER 配置了最新的BrightBeam?鏡筒,實(shí)現(xiàn)了無磁場超高分辨成像,可以最大化的實(shí)現(xiàn)各種分析,包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率,特別適合對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。
關(guān)于泰思肯雙束掃描電鏡的應(yīng)用優(yōu)點(diǎn),小編就先為大家介紹到這里??梢哉f,這款雙束掃描電鏡在高分辨能力、原位應(yīng)用擴(kuò)展能力和分析擴(kuò)展能力方面達(dá)到了業(yè)內(nèi)頂級(jí)水平,用戶可以放心選購!更多廠家信息,可通過泰思肯的官網(wǎng)來進(jìn)一步咨詢。