CT,即計(jì)算機(jī)斷層掃描,該技術(shù)可以在不破壞樣本的情況下清楚了解樣本的內(nèi)部顯微結(jié)構(gòu)。在元素分析方面,通過此設(shè)備可以了解其結(jié)構(gòu)信息。那么,
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TESCAN UniTOM XL 高分辨率三維X射線CT顯微鏡為材料研究、失效分析和質(zhì)量控制等領(lǐng)域提供高效且非破壞性的三維成像功能,該系統(tǒng)配置了高功率的發(fā)射源、高效的探測器和軟件,可以提供高效的工作效率和圖像效果,時(shí)間分辨率可以達(dá)到10秒以下。
元素分析CT哪家好?TESCAN UniTOM XL 高分辨率三維X射線CT顯微鏡優(yōu)勢包括:
1、UniTOM 是一款配置靈活的高分辨 X 射線 CT 顯微鏡,可根據(jù)用戶的需求組合功能模塊,最大限度的提高圖像質(zhì)量、分辨率和分析速度。
2、感興趣區(qū)域的直觀觀測可在概覽圖上選擇感興趣區(qū)域進(jìn)行實(shí)時(shí)縮放,獲得孔隙結(jié)構(gòu)和礦物的細(xì)節(jié)信息。
3、亞微米級分辨率UniTOM 可以獲得 3um 的真實(shí)空間分辨率,并且適用于多種類型和尺寸的樣品,可分析的樣品直徑為 50 cm,高度115 cm。
4、硬件模塊(如可附加的X射線源或探測器)可以輕松集成到系統(tǒng)中,方便用戶進(jìn)行硬件升級或更換單個(gè)硬件,進(jìn)而延長系統(tǒng)的使用壽命。
5、UniTOM XL 模塊化設(shè)計(jì)有助于用戶可以隨時(shí)添加、升級和拓展配件,盡可能減少受到系統(tǒng)自身性能的限制影響,系統(tǒng)中提供的“future-proof”平臺(tái)能夠幫助客戶適應(yīng)未來在發(fā)射源或探測器技術(shù)方面的創(chuàng)新發(fā)展。
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高分辨率三維X射線CT顯微鏡的優(yōu)勢異常顯著,可為用戶提供諸多便利。更多產(chǎn)品信息,可以通過TESCAN泰思肯的官網(wǎng)來進(jìn)一步咨詢獲悉。